《电子级氢氟酸半导体晶圆蚀刻制程适用性
测试方法》(征求意见稿)
编制说明
一、工作简况
(一)任务来源
本文件由中国技术市场协会提出,经中国技术市场协会标准
化工作委员会批准,正式列入2026年团体标准制修订计划,标
准名称为《电子级氢氟酸半导体晶圆蚀刻制程适用性测试方法》。
(二)项目背景
随着半导体制造技术向更小节点、更高集成度发展,晶圆蚀
刻制程的精度与洁净度要求日益严苛。电子级氢氟酸作为蚀刻二
氧化
《电子级氢氟酸半导体晶圆蚀刻制程适用性
测试方法》(征求意见稿)
编制说明
一、工作简况
(一)任务来源
本文件由中国技术市场协会提出,经中国技术市场协会标准
化工作委员会批准,正式列入2026年团体标准制修订计划,标
准名称为《电子级氢氟酸半导体晶圆蚀刻制程适用性测试方法》。
(二)项目背景
随着半导体制造技术向更小节点、更高集成度发展,晶圆蚀
刻制程的精度与洁净度要求日益严苛。电子级氢氟酸作为蚀刻二
氧化
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