《电子级氢氟酸半导体晶圆蚀刻制程适用性测试方法编制说明》.pdf

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《电子级氢氟酸半导体晶圆蚀刻制程适用性

测试方法》(征求意见稿)

编制说明

一、工作简况

(一)任务来源

本文件由中国技术市场协会提出,经中国技术市场协会标准

化工作委员会批准,正式列入2026年团体标准制修订计划,标

准名称为《电子级氢氟酸半导体晶圆蚀刻制程适用性测试方法》。

(二)项目背景

随着半导体制造技术向更小节点、更高集成度发展,晶圆蚀

刻制程的精度与洁净度要求日益严苛。电子级氢氟酸作为蚀刻二

氧化

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