GB/T 42709.21-2026半导体器件 微电子机械器件 第21部分:MEMS薄膜材料泊松比测试方法.pdf

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  •   |  2026-07-30 颁布
  •   |  2027-02-01 实施

GB/T 42709.21-2026半导体器件 微电子机械器件 第21部分:MEMS薄膜材料泊松比测试方法.pdf

ICS31.200

CCSL55

中华人民共和国国家标准

/—/:

GBT42709.212026IEC62047-212014

半导体器件微电子机械器件

第部分:薄膜材料

21MEMS

泊松比测试方法

——

SemiconductordevicesMicro-electromechanicaldevices

:’

Part21TestmethodforPoissonsratioofthinfilmMEMSmaterials

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