T∕CASAS 005-2025 氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)动态导通电阻测试方法 多脉冲硬开关法.pdfVIP

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T∕CASAS 005-2025 氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)动态导通电阻测试方法 多脉冲硬开关法.pdf

ICS31.080.30

CCSL44

团体标准

T/CASAS005—2025

代替T/CASAS005—2022

氮化镓高电子迁移率晶体管(GaNHEMT)

动态导通电阻测试方法多脉冲硬开关法

Dynamicon-resistancetestmethodforGaNhighelectronmobility

transistor(HEMT):multi-pulsehard-switchingtechnique

2025-12-30发布2025-12-30实施

第三代半导体产业技术创新战略联盟发布

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