IEC 60747-5-152022 半导体器件第5-15部分光电子器件发光二极管基于电反射光谱法的平带电压试验方法标准立项发展报告.docxVIP

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  • 2026-09-04 发布于山东
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IEC 60747-5-152022 半导体器件第5-15部分光电子器件发光二极管基于电反射光谱法的平带电压试验方法标准立项发展报告.docx

半导体器件第5-15部分:光电子器件发光二极管基于电反射光谱法的平带电压试验方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices–Part5-15:OptoelectronicDevices–LightEmittingDiodes–TestMethodoftheFlat-BandVoltageBasedontheElectroreflectanceSpectroscopy

摘要

关键词:半导体器件;发光二极管;平带电压;电反射光谱法;国际标准;IEC60747-5-15;光电子器件

Keywords:Semiconductordevices;Lightemittingdiodes;Flat-bandvoltage;Electroreflectancespectroscopy;Internationalstandards;IEC60747-5-15;Optoelectronicdevices

一、引言

发光二极管(LightEmittingDiode,LED)作为第三代半导体照明技术的核心器件,凭借其高效率、长寿命、节能环保等突出优势,已全面渗透到通用照明、背光显示、汽车照明、信号指示及光通信等众多应用领域。根据Y

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