CN119471307A 芯片结温测试方法及装置 （锐泰微(武汉)微电子有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119471307A

(43)申请公布日2025.02.18

(21)申请号202411580583.X

(22)申请日2024.11.06

(71)申请人锐泰微（武汉）微电子有限公司

地址430073湖北省武汉市东湖新技术开

发区关山大道1号光谷软件园1.1期产

业楼A2栋3层304室

(72)发明人李佑辉向政勋柴禄弟

(74)专利代理机构北京成创同维知识产权代理

有限公司11449

专利代理师高柏通

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

权利要求书2页说明书11页附图3页