IEC TS 633422022 C-Si光伏（PV）组件.光和高温诱导退化（LETID）试验.检测标准立项发展报告.docx

C-Si光伏（PV）组件光和高温诱导退化（LETID）试验检测标准立项发展报告

英文标题：StandardizationDevelopmentReport:C-SiPhotovoltaic(PV)Modules-LightandElevatedTemperatureInducedDegradation(LETID)Test-Detection

摘要

关键词：晶体硅光伏组件；光和高温诱导退化（LETID）；国际电工委员会；可靠性试验；技术规范；标准化；衰减检测；载流子诱导退化

Keywords:Crystallinesiliconphotovolta