无损检测 测量残余应力的X射线检测方法 第2部分：德拜环法.docxVIP

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无损检测

测量残余应力的X射线检测方法

第2部分：德拜环法

1范围

本文件描述了基于德拜环应变cos“计算原理的X射线应力测量方法，规定了符号、测量原理、仪器、仪器核查、试样、测定程序、实验报告。

本文件适用于具有足够结晶度的晶粒细小、无织构、各向同性多晶体材料表面层的应力测量，测量结果为某测量方向的残余应力与载荷应力的代数和。其他多晶材料残余应力测量可参照使用。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T7704.1无损检测测量残余应力的X射线检测方法第1部分：晶格应变法

JJF（机械）1083X射线残余应力测定仪校准规范

3术语和定义

GB/T7704.1界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1

德拜环（德拜-谢乐环；德拜环）Debyering；Debye-Scherrerring

多晶体受X射线照射时，满足布拉格衍射条件的晶粒形成圆锥形衍射束，在二维探测器上记录得到的环状衍射图样。

3.2

德拜环方法Debyeringmethod（cos“法）

采用单次斜入射X射线曝光，记录二维探测器上德拜环信息，利用德拜环上不同德拜环方位角