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- 2026-09-18 发布于北京
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面向大尺寸硅片的全自动键合机对准微调机构与视觉伺服控制系统
摘要
随着半导体制造向大尺寸硅片演进,传统键合对准技术在精度与效率方面面临严峻挑战。本课题针对12英寸及以上硅片键合工艺需求,设计了一套集成压电驱动微调机构与视觉伺服控制的全自动对准系统。
研究首先分析了晶圆键合对准的精度瓶颈,明确了纳米级定位与实时校正的核心目标。在总体设计中,构建了“视觉感知-偏差计算-压电执行-多轴协同”的闭环控制架构,将系统划分为精密机械微调、高分辨率视觉检测与多轴运动控制三大功能模块。
详细设计阶段,重点开发了基于柔性铰链的压电驱动三自由度微调平台,提出了融合边缘检测与模板匹配的亚像素视觉对准算法,并设计了基于模糊PID的多轴伺服协同控制策略。系统实现后,搭建了模拟键合测试环境进行验证。
测试结果表明,该系统平移对准精度优于±0.5μm,旋转对准精度优于±0.001°,单次对准周期小于1.5秒,满足大尺寸硅片键合工艺的苛刻要求。本设计的核心创新在于将压电陶瓷的高频响特性与视觉伺服的空间解算能力深度结合,通过动态补偿策略有效抑制了机械迟滞与热漂移对精度的影响,为国产高端键合装备的自主研发提供了可行的技术方案。
第一章绪论
1.1研究背景
在半导体制造工艺中,晶圆键合技术是将两片或多片硅片通过物理或化学作用永久结合的关键工序,广泛应用于三维集成电路、MEMS器件及功率器件的制造。
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