gb-t 4937.201-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综 (1).pptxVIP

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gb-t 4937.201-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综 (1).pptx

gb-t4937.201-2026半导体器件机械和气候试验方法第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输培训

目录

02

器件操作规范与要求

01

标准概述与适用范围

03

包装要求与防护技术

04

标志与标签标识规范

05

运输规则与存储管理

06

培训总结与落地执行

标准概述与适用范围

01

标准制定背景与目的

标准更新迭代

GB/T4937.201-2026替代2018版,等同采用IEC60749-20-1-2019,以适应半导体器件向小型化、高密度组装发展的技术需求,提升国际一致性。

提升产品可靠性

通过严格的标准化管理,预防器件在回流焊接过程中因吸湿膨胀导致的内部剥离或微裂纹,保障半导体产品的最终应用可靠性。

规范全生命周期

旨在为对潮湿和焊接热敏感的表面安装器件提供统一的操作、包装、标志和运输规范,降低从制造到贴片全流程的湿气失效风险。

适用器件类型与界定

01.

表面安装器件

主要针对采用表面贴装技术(SMT)的半导体器件,此类器件在回流焊时直接暴露于高温环境,极易受湿气与热应力综合影响。

02.

潮湿敏感器件

明确界定为对潮湿和焊接热综合影响敏感的MSD,需根据标准进行严格的防潮包装与分级管理,防止吸湿引发“爆米花”效应。

03.

等级分类管理

涵盖不同潮湿敏感等级的器件,要求依据标准进行寿命评估与管控,确保在规定的车

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