GBT 42968.3-2025 集成电路　电磁抗扰度测量　第3部分：大电流注入(BCI)法标准立项发展报告.docxVIP

集成电路电磁抗扰度测量第3部分：大电流注入(BCI)法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:IntegratedCircuits—MeasurementofElectromagneticImmunity—Part3:BulkCurrentInjection(BCI)Method

摘要

随着集成电路工作频率不断提高和集成度持续增大，电磁兼容性问题日益突出，电磁抗扰度已成为衡量集成电路可靠性的关键指标之一。大电流注入（BulkCurrentInjection,BCI）法作为一种重要的电磁抗扰度测量手段，因其操作便捷、重复性好、频带覆盖宽等优势，在汽车电子、工业控制、通信设备等领域得到广泛应用。GB/T42968.3-2025《集成电路电磁抗扰度测量第3部分：大电流注入(BCI)法》于2025年12月2日发布并实施，标志着我国集成电路电磁抗扰度测量标准体系进一步完善。本报告系统梳理了该标准的立项背景、编制过程、技术内容、与国际标准的对标分析及实施意义，旨在为集成电路设计、测试及应用领域的专业技术人员提供参考，推动标准在产业链中的推广应用。

关键词

中文关键词：集成电路；电磁抗扰度；大电流注入法；电磁兼容；标准化；BCI测试；电磁敏感性

EnglishKeywords:IntegratedCi