GBT 45770-2025 表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序标准立项发展报告.docxVIP

表面化学分析原子力显微术用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:SurfaceChemicalAnalysis—AtomicForceMicroscopy—ProcedureforIn-SituCharacterizationofAtomicForceMicroscopeProbeShankProfileforNanostructureMeasurement

摘要

随着纳米科技的快速发展，纳米结构测量对原子力显微镜（AFM）的精度和可靠性提出了更高要求。AFM探针柄轮廓的精确表征是保证纳米结构测量准确性的关键前提。然而，长期以来国内外缺乏统一的探针柄轮廓原位表征程序标准，导致测量结果可比性差、重复性低。本标准（GB/T45770-2025）规定了利用原子力显微术对用于纳米结构测量的AFM探针柄轮廓进行原位表征的程序和方法，涵盖术语定义、表征原理、仪器要求、操作步骤、数据处理及结果报告等内容。本标准的制定填补了表面化学分析领域在AFM探针表征方面的标准空白，为纳米结构测量的量值溯源和质量控制提供了技术依据。本标准由国家标准机构发布，将于2026年1月1日正式实施，对推动我国纳米测量标准化体系建设具有重要意