YST 1754-2025 颗粒硅表面粉尘的测定 浊度法标准立项发展报告.docx

颗粒硅表面粉尘的测定浊度法标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:DeterminationofSurfaceDustonGranularSilicon—TurbidityMethod

摘要

随着光伏产业的快速发展，颗粒硅作为新一代多晶硅原料，因其低能耗、低成本、连续化生产等优势，正逐步成为光伏产业链中的重要基础材料。颗粒硅表面粉尘含量是衡量产品洁净度的关键质量指标，直接影响下游拉晶工艺的稳定性及最终硅片产品质量。然而，国内外尚缺乏针对颗粒硅表面粉尘测定的统一标准化方法，导致产品质量评价缺乏可