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XRD射线衍射图谱的分析文献综述

XRD射线衍射（XRD）是利用晶体经过X射线以一定入射角入射，衍射后形成的XRD图谱对物质内部分子或原子的空间分布状况进行分析的方法。每一种物质都有其独特的XRD图谱。打个通俗的比方，XRD图谱对于晶体相当于指纹对于我们人类，是鉴别经理结构与类别的主要标志。基于XRD的无相分析能确定晶体的类别并测算各种物质的含量，是研究物质结构的主要研究手段。

XRD图谱的分析包括定性和定量分析。

定性分析是指将实验衍射图谱与标准图谱数据进行对照来确定位置晶体的五物相类。根据XRD图谱信息，可以确定样品是无定型还是晶体：无定型样品为大包峰，没有精细谱峰结构；晶体则有丰富的谱线特征。把样品中最强峰的强度和标准物质的进行对比，可以定性知道样品的结晶度。通过与标准谱图进行对比，可以知道所测样品由哪些物相组成（XRD最主要的用途之一）。通过实测样品和标准谱图2θ值的差别，可以定性分析晶胞是否膨胀或者收缩的问题，因为XRD的峰位置可以确定晶胞的大小和形状。

定量分析是在已知物相类别的情况下通过测量的衍射强度来测算各自的含量。当X射线入射到小晶体时，其衍射线条将变得弥散而宽化，晶体的晶粒越小，X射线衍射谱带的宽化程度就越大，这样可以确定样品的平均晶粒尺寸。定量分析还可以确定样品的相对结晶度，将最强衍射峰积分所得的面积（As）当作计算结晶度的指标，与标准物质积分所得面积(Ag