半导体器件 第5-13部分：光电器件 LED封装硫化氢腐蚀试验 标准立项发展报告.docx

半导体器件第5-13部分：光电器件LED封装硫化氢腐蚀试验标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices—Part5-13:Optoelectronicdevices—HydrogensulphidecorrosiontestforLEDpackages

摘要

随着LED封装技术向高密度、高可靠性方向快速发展，LED器件在含硫化氢（H?S）污染气体环境下的腐蚀失效问题日益凸显，已成为制约其在汽车电子、户外照明、工业控制等领域深入应用的关键因素。为统一LED封装抗硫化氢腐蚀性能的