GBT 42968.9-2025 集成电路　电磁抗扰度测量　第9部分：辐射抗扰度测量　表面扫描法标准立项发展报告.docxVIP

集成电路电磁抗扰度测量第9部分：辐射抗扰度测量表面扫描法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:IntegratedCircuits—MeasurementofElectromagneticImmunity—Part9:RadiatedImmunityMeasurement—SurfaceScanMethod

摘要

随着集成电路工作频率不断提升和集成度持续增大，电磁兼容性问题日益突出，辐射抗扰度已成为衡量集成电路可靠性的关键指标之一。GB/T42968.9-2025《集成电路电磁抗扰度测量第9部分：辐射抗扰度测量表面扫描法》于2025年12月2日正式发布并实施，标志着我国集成电路电磁抗扰度测量标准体系进一步完善。该标准规定了采用表面扫描法对集成电路进行辐射抗扰度测量的方法，涵盖测量原理、测试设备、试验布置、测量程序及结果评定等技术内容。本标准适用于各类集成电路在辐射电磁场环境下的抗扰度特性评估，为集成电路设计验证、产品认证及质量管控提供了统一的测试依据。本报告系统梳理了该标准的立项背景、编制过程、主要技术内容及实施意义，旨在为相关企事业单位和技术人员提供参考。

关键词：集成电路；电磁抗扰度；辐射抗扰度；表面扫描法；电磁兼容；标准化；测量方法

Keywords:IntegratedCircui