电子器件设计验证方法.pdfVIP

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21.申请号201410800122.9

22.申请日2014.12.19

23.优先权数据

14/137,5182013.12.20US

(71)申请人爱德万测试公司

地址东

(72)发明人留今雷

(74)专利机构东方亿思公司11258

人

51.Int.CI.

G06F17/50(2006.01)

权利要求书3页说明书9页附图4页

54.发明名称

电子器件的设计验证

57.

本发明涉及电子器件的设计验证。描述了用于测试多个电子被测器件（DUT）的计算

机实现的处理。利用电子设计自动化（EDA）工具生成设计测试模式或命令/指令。所生

成的设计测试模式和命令/指令通过基于UNIX或基于语言和/或