TZOIA—硅光电倍增管性能测试方法.pptxVIP

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  • 2026-10-10 发布于北京
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TZOIA-硅光电倍增管性能测试方法;;01;结构与工作原理;;典型应用场景;02;;;;03;;;;04;光通量标定方法;在恒温箱中模拟低温环境,监测暗计数率(DCR)和增益变化。低温可能导致载流子迁移率降低,需验证微单元雪崩击穿电压的温度系数及信号延迟现象。;长期稳定性评估数据;05;信号漂移的抑制措施;多层屏蔽结构设计;倍增极老化补偿方法;06;国际标准(如IEC60386);定制化测试方案;;汇报人:XXX

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