SJT 12034-2025 人工智能芯片 边缘侧深度学习芯片测试指标与测试方法标准立项发展报告.docx

人工智能芯片边缘侧深度学习芯片测试指标与测试方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:TestMetricsandTestMethodsforEdge-SideDeepLearningChipsofArtificialIntelligenceChips

摘要

随着人工智能技术在边缘计算场景中的快速渗透，边缘侧深度学习芯片作为承载智能推理任务的核心硬件，其性能评估与质量评价体系的标准化需求日益迫切。当前，国内外针对边缘侧AI芯片的测试方法尚处于碎片化状态，缺乏统一的测试指标体系和规范化测试流程，导致产品选型困难、性