JEDEC JS 002 中文版 器件级充电器件模型静电放电敏感度测试规范.docxVIP

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JEDECJS-002中文版器件级充电器件模型静电放电敏感度测试规范

标准概述与行业背景

ANSI/ESDA/JEDECJS-002是JEDEC与ESDA协会联合发布的器件级充电器件模型CDM静电放电敏感度测试标准，替代旧版JESD22-C101，与JS-001人体模型HBM配套，共同构成半导体器件两大核心器件级ESD可靠性测试体系。CDM模拟半导体器件在自动化生产传输、料管、托盘搬运过程中，器件本体通过电场感应、摩擦自身积累静电，器件引脚接触接地导体瞬间发生极速放电的物理现象。CDM放电上升沿亚纳秒级别，峰值电流可达数十安培，放电持续时间极短，是半导体工厂现场器件静电损伤的首要来源，大量现场失效CDM损伤无法被HBM测试复现。

本标准适用对象为封装完成的半导体器件，包含集成电路、光电器件、声表面波器件、混合集成电路、多芯片模组MCM；限定测试必须采用与量产一致的封装形态，裸片、晶圆级测试不在本标准覆盖范围，不可直接套用JS-002结果。标准采用场感应式FI-CDM作为唯一合规测试方式，不认可插座放电式CDM测试设备输出的数据。

需要明确标准边界，JS-002属于器件组件级ESD测试，和系统级IEC61000-4-2整机静电测试完全区分，波形机理、激励对象不一样，测试结果不可互相换算；CDM和HBM损伤机理不同，HBM耐受等级高不代表CDM性能同步优异，很多器件会