CN119375805A 集成电路可测性及测试点插入方法、装置、设备、介质 (上海国微芯芯半导体有限公司).pdfVIP

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  • 2026-10-19 发布于重庆
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CN119375805A 集成电路可测性及测试点插入方法、装置、设备、介质 (上海国微芯芯半导体有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119375805A

(43)申请公布日2025.01.28

(21)申请号202411497011.5

(22)申请日2024.10.25

(71)申请人上海国微芯芯半导体有限公司

地址201208上海市浦东新区中国(上海)

自由贸易试验区临港新片区秋山路

1775弄29、30号2楼02室

(72)发明人杨凡傅驰邓倩李童郭军

(74)专利代理机构北京清大紫荆知识产权代理

有限公司11718

专利代理师余中燕

(51)Int.Cl.

G01R35/00(2006.01)

G01R31/3183(2006.01)

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