GBZ 46984.4-2026 光伏电池 第4部分：晶体硅光伏电池光热诱导衰减试验方法 标准立项发展报告.docxVIP

光伏电池第4部分：晶体硅光伏电池光热诱导衰减试验方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Photovoltaiccells—Part4:Measurementoflightandelevatedtemperatureinduceddegradationofcrystallinesiliconphotovoltaiccells

摘要

随着全球能源结构转型加速推进，光伏发电作为可再生能源的重要组成部分，其装机容量持续快速增长。晶体硅光伏电池作为市场占有率超过95%的主流技术路线，其长期可靠性直接关系到光伏电站的发电效益和投资回报。光热诱导衰减（LightandElevatedTemperatureInducedDegradation，简称LeTID）是近年来发现的一种严重影响晶体硅光伏电池性能的衰减机制，可在电池运行初期造成显著的功率损失，已成为行业关注的焦点问题。本报告围绕GB/Z46984.4-2026《光伏电池第4部分：晶体硅光伏电池光热诱导衰减试验方法》标准的立项背景、技术内容、制定意义及实施展望进行系统阐述。该标准规定了晶体硅光伏电池在光照和高温综合条件下诱导衰减的试验方法，包括试验设备要求、测试条件、试验程序及结果评定等内容，为光伏电池制造商、检测机构和科研院所提供了统一的