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CN119444684A 一种带电非接触式绝缘子劣化检测方法及装置 （重庆大学）.pdfVIP

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  • 2026-10-19 发布于重庆
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CN119444684A 一种带电非接触式绝缘子劣化检测方法及装置 （重庆大学）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119444684A

    (43)申请公布日2025.02.14

    (21)申请号202411472532.5G01N21/33(2006.01)

    G06T7/136(2017.01)

    (22)申请日2024.10.21

    G06T7/13(2017.01)

    (71)申请人重庆大学

    G06T7/187(2017.01)

    地址400030重庆市沙坪坝区沙正街174号

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