微束分析 分析电子显微镜 用透射电子显微镜的选定区域电子衍射分析 标准立项发展报告.docx

微束分析分析电子显微镜用透射电子显微镜的选定区域电子衍射分析标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Microbeamanalysis—Analyticalelectronmicroscopy—Selectedareaelectrondiffractionanalysisusingatransmissionelectronmicroscope

【摘要】

选区电子衍射（SAED）是透射电子显微镜（TEM）的核心分析功能之一，能够在微米乃至更小的尺度上获取材料的晶体结构信息，是物相鉴定、晶体取向分析、界面结构研