《gb-t+30118-2026声表面波（saw）器件用单晶晶片+规范与测量方法》培训课件.pptxVIP

《gb-t30118-2026声表面波（saw）器件用单晶晶片规范与测量方法》培训课件

目录02单晶晶片技术规范01标准概述与背景03物理与化学性能要求04测量方法与测试设备05检验规则与质量评定06标志、包装与存储

标准概述与背景01

标准制定目的与意义引领技术升级通过明确物理性能与微观缺陷的严苛测量方法，倒逼上游晶片生长与加工企业优化工艺，促进射频通信产业整体技术迭代与升级。对接国际标准等同采用IEC62276:2016国际标准，推动国内技术与国际全面接轨，提升国产压电晶片在国际市场的竞争力和互认水平。规范产业基础统一声表面波器件用单晶晶片的生产与验收标准，确保晶片质量一致性，为滤波