《gb-t+47239.1-2026半导体器件+柔性可拉伸半导体器件+第1部分：柔性基板上导电薄膜的.pptxVIP

《gb-t47239.1-2026半导体器件柔性可拉伸半导体器件第1部分：柔性基板上导电薄膜的弯曲试验方法》培训课件

目录

02

试验设备与样品要求

01

标准概述与背景

03

弯曲试验操作流程

04

参数测量与数据记录

05

结果计算与判定标准

06

试验报告与质量控制

标准概述与背景

01

标准制定背景与意义

对接国际体系

本标准结合国内产业实际，与IEC62951系列等国际标准体系相协调，规范了导电薄膜与柔性基板界面疲劳评价的试验流程。

填补测试空白

此前行业内缺乏专门针对柔性半导体器件导电薄膜弯曲耐久性的国家标准，本标准的制定有效填补了该领域测试方法的技术空白。

产业升级需求