ISO 17867：2020 粒度分析.小角度X射线散射（SAXS）标准立项发展报告.docx

粒度分析——小角度X射线散射（SAXS）标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:ParticleSizeAnalysis—SmallAngleX-rayScattering(SAXS)

摘要

粒度分析是材料科学、纳米技术、制药工程、催化剂研究等领域中的基础性表征手段，其测量结果的准确性和可比性对产品质量控制与科学研究结论的可靠性具有决定性影响。小角度X射线散射（SmallAngleX-rayScattering,SAXS）作为一种非破坏性、统计代表性的纳米尺度粒度分析技术，能够有效表征1至100纳米范围内颗粒和孔隙的尺寸