IEC 62037-8-2025 无源射频和微波器件互调电平测量 第8部分：由暴露于射频辐射的物体产生的无源互调的测量 标准立项发展报告.docxVIP

无源射频和微波器件互调电平测量第8部分：由暴露于射频辐射的物体产生的无源互调的测量标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:PassiveRFandMicrowaveDevices,IntermodulationLevelMeasurement-Part8:MeasurementofPassiveIntermodulationGeneratedbyObjectsExposedtoRFRadiation

摘要

随着无线通信技术的快速发展，尤其是5G及未来6G通信系统对射频前端器件性能要求的不断提高，无源互调（PassiveIntermodulation,PIM）已成为影响通信系统容量和信号质量的关键因素之一。在实际应用中，不仅无源器件本身会产生互调干扰，暴露于射频辐射环境中的各种物体（如金属结构件、建筑材料、天线罩、连接件等）同样可能产生显著的无源互调效应，进而对通信系统造成干扰。IEC62037-8:2025标准作为IEC62037系列标准的重要组成部分，专门针对由暴露于射频辐射的物体所产生的无源互调测量方法进行了系统规范。本报告详细阐述了该标准的立项背景、技术内容、编制原则及实施意义，分析了该标准在射频微波器件测试领域的重要价值。该标准于2025年3月20日正式实施，为从事无线通