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现代材料测试分析方法的期末考试卷及答案

现代材料测试分析方法期末考试卷

一、单项选择题（每题2分，共20分）

1.布拉格方程2dsinθ=nλ中，d代表的是（）

A.入射X射线波长B.晶面间距C.衍射角D.衍射级数

2.扫描电子显微镜（SEM）成像时，二次电子信号主要用于观察（）

A.样品表面形貌B.样品内部结构C.元素分布D.晶体缺陷

3.透射电子显微镜（TEM）的分辨率主要取决于（）

A.电子枪类型B.物镜球差C.样品厚度D.加速电压

4.红外光谱（IR）的特征吸收峰主要由材料的（）引起

A.电子跃迁B.分子振动-转动能级跃迁C.核自旋跃迁D.晶格振动

5.差示扫描量热法（DSC）测量的是样品与参比物之间的（）

A.温度差B.热流量差C.质量变化D.体积变化

6.X射线光电子能谱（XPS）的表面分析深度约为（）

A.0.1~1nmB.1~10nmC.10~100nmD.100nm~1μm

7.拉曼光谱与红外光谱的主要区别在于（）

A.光源类型B.检测的分子振动模式C.分辨率D.样品制备要求

8.热重分析（TGA）曲线中，质量损失平台对应的是材料的（）

A.熔融过程