DSEN IEC 61788-15-2026 超导性 第15部分：电子特性测量 微波频率下超导薄膜本征表面阻抗 标准立项发展报告.docxVIP

超导性第15部分：电子特性测量微波频率下超导薄膜本征表面阻抗标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Superconductivity–Part15:ElectronicCharacteristicMeasurements–IntrinsicSurfaceImpedanceofSuperconductorFilmsatMicrowaveFrequencies

摘要

随着超导技术在微波通信、量子计算、射电天文及雷达系统等领域的广泛应用，超导薄膜微波表面阻抗的精确测量已成为制约相关器件性能评估与材料质量控制的关键技术环节。国际电工委员会（IEC）发布的DS/ENIEC61788-15:2026标准，针对微波频率下超导薄膜本征表面阻抗的电子特性测量方法进行了系统规范，为全球超导薄膜材料研发机构、器件制造企业及检测实验室提供了统一的技术依据。该标准属于IEC61788系列标准的第15部分，由IEC技术委员会TC90（超导技术）负责制定，丹麦标准协会（DS）作为成员国机构采纳发布。标准于2026年5月12日正式实施，标志着超导薄膜微波特性测量领域进入规范化、标准化的新阶段。本报告系统梳理了该标准的立项背景、技术框架、核心内容及实施意义，分析了国内外相关技术发展现状与标准化需求，并结合我国超导产业实