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《GB-T48168-2026半导体器件基于感性负载开关应力的氮化镓（gan）晶体管可靠性试验方法》培训课件

目录02适用范围与术语定义01标准概述与背景03试验设备与条件要求04可靠性试验操作流程05参数监测与失效判定06数据处理与报告编制

标准概述与背景01

标准制定目的与意义促进行业发展填补国内相关标准空白，为半导体产业链提供技术依据，推动氮化镓器件的广泛应用与产业化进程。提升器件可靠性通过标准化测试识别潜在失效模式，优化器件设计，提高氮化镓晶体管在实际应用中的长期稳定性。规范试验方法为氮化镓晶体管在感性负载开关应力下的可靠性评估提供统一标准，确保测试结果的可比性与一致性。

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