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扫描电子显微镜（SEM）期末考试试题及详细参考答案.docx

扫描电子显微镜（SEM）期末考试试题及详细参考答案.docx

    扫描电子显微镜（SEM）期末考试试题及详细参考答案

    考试说明：本试卷满分100分，考试时间90分钟，闭卷考试。适用于材料科学、高分子材料、生物医学工程、地质检测等相关专业期末考核。

    一、名词解释（每题3分，共15分）

    1.二次电子

    2.背散射电子

    3.景深

    4.荷电效应

    5.溅射镀膜

    二、单项选择题（每题2分，共30分）

    1.扫描电子显微镜的核心成像信号主要是（）

    A.透射电子B.二次电子C.特征X射线D.俄歇电子

    2.二次电子成像最主要的优势是（）

    A.成分衬度清晰B.表面形貌立体感强C.分辨率最高D.可分析晶体结构

    3.下列

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