人工智能芯片 面向大模型的稳定性测试方法标准化发展研究报告.docx

人工智能芯片面向大模型的稳定性测试方法行业标准研究报告

ArtificialIntelligenceChipStabilityTestingMethodforLargeModels:AnIndustryStandardDevelopmentReport

摘要

随着大语言模型参数规模从百亿级迈向万亿级，人工智能芯片作为算力基础设施的核心载体，其在大规模训练与推理场景下的稳定性表现已成为制约产业发展的关键因素。当前，国内外针对AI芯片的测试标准主要聚焦于功能验证与性能基准，缺乏面向大模型实际负载特征的稳定性测试方法规范，导致芯片选型、质量评估和系统部署缺乏统一的技术依据。本标准（计划编号：2026-1130T-SJ）由工业和信息化部电子第五研究所牵头，联合中国电子技术标准化研究院、阿里巴巴达摩院（杭州）科技有限公司、沐曦集成电路（上海）股份有限公司、黑芝麻智能科技有限公司等单位共同制定，归口全国集成电路标准化技术委员会，属于推荐性行业标准（HB）。本报告系统阐述了该标准的制定背景、技术框架、核心内容和应用价值，分析了标准在大模型训练稳定性、推理一致性、长时间运行可靠性等方面的测试方法设计，旨在为AI芯片研发企业、测试机构及终端用户提供标准化的技术参考。本标准的制定将填补我国AI芯片面向大模型稳定性测试领域的标准空白，对推动集成电路产业高质量发展具有重要意