CN119290172A 一种基于辐射源尺寸效应的红外测温修正方法 (武汉高德智感科技有限公司).pdfVIP

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  • 2026-10-30 发布于重庆
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CN119290172A 一种基于辐射源尺寸效应的红外测温修正方法 (武汉高德智感科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119290172A

(43)申请公布日2025.01.10

(21)申请号202411450018.1

(22)申请日2024.10.17

(71)申请人武汉高德智感科技有限公司

地址430205湖北省武汉市东湖新技术开

发区高新三路29号

(72)发明人黄晟王文松向锦田志远

杨艳峰

(74)专利代理机构深圳峰诚志合知识产权代理

有限公司44525

专利代理师肖多

(51)Int.Cl.

G01J5/90(2022.01)

G01J5/48(2022.01)

G01J5/53(2022.01)

G01J5/00(2

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