CN119291459A 多键合线测试电路以及测试方法 （意瑞半导体（上海）有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119291459A

(43)申请公布日2025.01.10

(21)申请号202411434360.2

(22)申请日2024.10.15

(71)申请人意瑞半导体（上海）有限公司

地址200241上海市闵行区东川路555号丁

楼7089室

(72)发明人曾妮

(74)专利代理机构上海隆天律师事务所31282

专利代理师钟宗

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

权利要求书3页说明书9页附图4页

(54)发明名称

多键合线测试电路以及测试方法

(57)摘要

本发明提供了多键合线测试电路以及测试