CHS_EPC宜普电源2025氮化镓器件可靠性报告.pdfVIP

RELIABILITYREPORTPhaseSeventeenTesting

氮化镓(GaN)可靠性和寿命预测：

第17阶段

EFFICIENTPOWERCONVERSION

SiddheshGajare博士，DuanhuiLi博士，RicardoGarcia,AngelEspinoza,JordanGreen,PeterTieu博士，ChristopherWong,

AnthonyNguyen,DavidWu,ShengkeZhang博士

氮化镓(GaN)设备在许多不同应用中的快速采用要求持续累积可靠性统计数据，并研究GaN

设备(包括集成电路(ICs))中的失效基本物理学。本第17阶段可靠性报告展示了使用测试

以失败的方法，开发更全面和先进的寿命模型的持续努力，旨在准确预测在更复杂的特定任务

操作条件下的GaN设备的可靠性。

第17阶段可靠性报告的新内容如下

最新的第17阶段可靠性报告进一步扩展了基于第一原理的寿命模型，以应对更复杂的操作条件，从而能够为特定

任务应用提供更准确的寿命预测。此外，最新版本侧重于以多种面向应用