《gb-t+30118-2026声表面波（saw）器件用单晶晶片+规范与测量方法》.pptxVIP

《gb-t30118-2026声表面波（saw）器件用单晶晶片规范与测量方法》

目录

CONTENTS

02.

04.

05.

01.

03.

06.

标准概述与适用范围

表面质量评定规范

晶片材料与物理规范

测量方法与测试规程

几何尺寸与公差要求

质量检验与交付包装

01

标准概述与适用范围

标准制定背景与目的

修改采用IEC62276-2025国际标准，提升国内标准与国际技术水平的接轨程度，促进产业国际化。

本标准拟全部代替GB/T30118-2013，以适应声表面波器件用单晶晶片技术发展，更新规范与测量方法。

由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会归口，中国电子科技集团