IEC 61189-5-504：2020 电气材料、印制板和其他互连结构和组件的试验方法第5-504部分材料和组件的一般试验方法过程离子污染试验标准立项发展报告.docxVIP

电气材料、印制板和其他互连结构和组件的试验方法第5-504部分：材料和组件的一般试验方法过程离子污染试验标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:TestMethodsforElectricalMaterials,PrintedBoardsandOtherInterconnectionStructuresandAssemblies-Part5-504:GeneralTestMethodsforMaterialsandAssemblies-ProcessIonicContaminationTesting(PICT)

摘要

随着电子制造工艺向高密度、细间距和微间距方向持续演进，印制电路板及互连结构在制造过程中引入的离子污染对产品可靠性的影响日益凸显。过程离子污染试验（ProcessIonicContaminationTesting,PICT）作为评估制造过程清洁度、监控工艺稳定性的关键检测手段，在电子制造质量控制体系中具有不可替代的作用。IEC61189-5-504:2020由国际电工委员会（IEC）于2020年4月正式发布，是IEC61189系列标准中专门针对材料和组件一般试验方法中过程离子污染试验的组成部分。该标准系统规定了过程离子污染试验的测试原理、试验设备、