GBT+47239.1-2026+柔性基板上导电薄膜的弯曲试验方法PPT课件.pptxVIP

GB/T47239.1-2026柔性基板上导电薄膜的弯曲试验方法

目录

CONTENTS

02.

04.

05.

01.

03.

06.

标准概述与适用范围

试验流程与操作步骤

术语定义与试验条件

数据处理与结果判定

试验设备与样品制备

试验报告与质量管控

01

标准概述与适用范围

标准制定背景与目的

应对耐久焦虑

针对折叠屏等柔性电子设备在实际使用中面临的“折多必坏”疑虑，规范动态弯折耐久测试方法，为产品寿命评估提供统一依据。

统一测试评价体系

解决不同厂商在测试条件、判定标准上的差异，明确弯曲、卷曲、扭曲等形变试验的具体程序，提升测试结果的一致性。

完善标准体系

填补国内在柔性半导体器件基板导电薄膜疲劳评价方面的标准空白，与IEC62951等国际标准体系接轨，促进行业规范发展。

适用对象与测试领域

柔性半导体器件

主要适用于各类柔性基板上的导电薄膜材料，涵盖LCD、电子纸及OLED等柔性显示器件中的核心导电层。

适用于评估导电薄膜在反复动态弯折和长期静态形变下的机械性能与疲劳寿命，验证其抗形变能力。

标准归类于扭转试验机与弯曲试验机应用范畴，为相关测试设备在半导体材料领域的具体操作提供规范指导。

动态与静态弯曲测试

弯曲试验机测试应用

规范性引用文件说明

国际标准接轨说明

规范性引用文件涵盖了IEC62715和IEC62951系列国际标准的核心内容，保障国内测试方法