IEC 61967-1：2018 集成电路电磁辐射测量第1部分一般条件和定义标准立项发展报告.docxVIP

集成电路电磁辐射测量第1部分：一般条件和定义标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:IntegratedCircuits–MeasurementofElectromagneticEmissions–Part1:GeneralConditionsandDefinitions

摘要

随着集成电路向高集成度、高时钟频率和低功耗方向持续演进，芯片级电磁辐射（EME）问题已成为影响电子系统电磁兼容性（EMC）的关键因素。IEC61967系列标准是国际电工委员会（IEC）针对集成电路电磁辐射测量制定的核心技术规范，其中第1部分（IEC61967-1:2018）规定了测量的一般条件、术语定义、试验配置与设备要求，是整个系列标准的基础性文件。本报告系统梳理了IEC61967-1:2018的立项背景、修订历程、主要技术内容及其在标准化体系中的地位，分析了该标准与CISPR、IEC61967系列其他部分以及国内外相关标准的协调关系。报告指出，2018版标准在术语体系完善、测量频率范围扩展、测试板规范细化等方面实现了重要技术升级，为集成电路电磁辐射的标准化测量提供了统一的技术框架。本报告旨在为从事集成电路设计、电磁兼容测试及标准化工作的技术人员和管理人员提供参考，推动我国集成电路电磁辐射