IEC 60747-5-13：2021 半导体器件第5-13部分光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验标准立项发展报告.docxVIP

半导体器件第5-13部分：光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验标准立项发展报告

EnglishTitle

StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices—Part5-13:Optoelectronicdevices—HydrogensulphidecorrosiontestforLEDpackages

摘要

硫化氢腐蚀是影响LED封装可靠性的重要环境应力，可导致银反射层硫化发黑、光通量衰减、色坐标漂移及电学参数劣化。IEC60747-5-13:2021《半导体器件第5-13部分：光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验》由国际电工委员会于2021年6月15日发布，现行有效，为LED封装耐硫化氢腐蚀性能提供了统一的试验方法与评价依据。报告梳理该标准的立项背景、基本信息、技术内容、实施价值与标准化趋势，分析其对LED封装材料、器件制造、检测认证及下游应用的影响。标准通过规定试验装置、样品准备、温湿度与气体浓度控制、暴露程序、光电参数复测和结果报告，提升试验再现性与实验室间可比性。结论认为，该标准对完善光电器件可靠性标准体系、支撑户外照明、汽车电子、智能家居等场景质量评价、促进国际贸易与产业协同具有重要意义，未来应与多气体耦合、加速模型及封装材料评价标准协同发展。

关键词

中文关键词：硫化