集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法 标准立项发展报告.docx

集成电路电磁抗扰度测量第9部分：辐射抗扰度测量表面扫描法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—Part9:Measurementofradiatedimmunity—Surfacescanmethod

摘要

随着集成电路向高集成度、高工作频率和低功耗方向持续演进，芯片级电磁兼容性问题日益突出，辐射抗扰度已成为衡量集成电路可靠性的关键指标之一。现行电磁抗扰度测量标准体系在辐射抗扰度的空间分辨能力方面存在不