ICS31.080.01
CCSL40
中华人民共和国国家标准
GB/TXXXXX.4—20XX
碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管
(SiCMOSFET)试验方法第4部分:高
温反偏
Testmethodforsiliconcarbidemetal-oxide-semiconductorfield-
effecttransistor(SiC
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