半导体物理习题_3_半导体中载流子的统计分布.docVIP

半导体物理习题_3_半导体中载流子的统计分布.doc

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第三章 半导体中的载流子统计分布 例题: 第三章 半导体中载流子的统计分布 例1. 有一硅样品,施主浓度为,受主浓度为,已知施主电离能,试求的施主杂质电离时的温度。 思路与解:令和表示电离施主和电离受主的浓度,则电中性方程为: 略去价带空穴的贡献,则得:(受主杂质全部电离) 式中: 对硅材料 由题意可知 则 (1) 当施主有99%的N电离时,说明只有1%的施主有电子占据,即 =0.01。 =198 ,代入式(1)得: 去对数并加以整理即得到下面的方程: 用相关数值解的方法或作图求得解为: T=101.8(k) 评析:本题硅样品为补偿性半导体,施主杂质多于受主杂质,所以认为受主杂质全部电离。 例2. 现有三块半导体硅材料,已知室温下(300K)它们的空穴浓度分别为:,,。 分别计算这三块材料的电子浓度,,; 判断这三块材料的导电类型; 分别计算这三块材料的费米能级的位置。 思路与解:(1)室温时硅的, 根据载流子浓度积公式: 可求出 (2)即 ,故为p型半导体. , 即 ,故为本征半导体. ,即 ,故为n型半导体. (3).当T=300k时, 由 得: 对三块材料分别计算如下: (ⅰ) 即 p型半导体的费米能级在禁带中线下0.37eV处。 (ⅱ) 即费米能级位于禁带中心位置。 (ⅲ)对n型材料有 即对n型材料,费米能级在禁带中心线上0.35eV处。 评析:通过本题进一步加深对N型半导体、P型半导体和本征半导体的多数载流子、少数载流子以及费米能级的位置的理解。 习题: 1.对于某n型半导体,试证明其费米能级在其本征半导体的费米能级之上。即EFnEFi。 2.试分别定性定量说明: 在一定的温度下,对本征材料而言,材料的禁带宽度越窄,载流子浓度越高; 对一定的材料,当掺杂浓度一定时,温度越高,载流子浓度越高。 3.若两块Si样品中的电子浓度分别为2.25×1010cm-3和6.8×1016cm-3,试分别求出其中的空穴的浓度和费米能级的相对位置,并判断样品的导电类型。假如再在其中都掺入浓度为2.25×1016cm-3的受主杂质,这两块样品的导电类型又将怎样? 4.含受主浓度为8.0×106cm-3和施主浓度为7.25×1017cm-3的Si材料,试求温度分别为300K和400K时此材料的载流子浓度和费米能级的相对位置。 5.试分别计算本征Si在77K、300K和500K下的载流子浓度。 6.Si样品中的施主浓度为4.5×1016cm-3,试计算300K时的电子浓度和空穴浓度各为多少? 7.某掺施主杂质的非简并Si样品,试求EF=(EC+ED)/2时施主的浓度。

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