第三章X射线.ppt

4.2 转晶法 Rotation Method 4.3 粉晶法 第四章 多晶体分析方法 前几章我们讨论了x射线的产生及其在晶体中衍射的基本原理，这一章将介绍x射线衍射的最基本的实验方法和装置。 粉末法是由德国的Debye和Scherrerr于1916年提出的。如利用得当，粉未法是所有衍射法中最为方便的方法，它可以提供晶体结构的大多数信息。粉末法是以单色X射线照射粉末试样为基础的，所谓“单色”是指x射线中强度最高的K系X射线，“粉末”可以为真正的粉末 通常用粘结剂粘结 或多晶体试样。 粉末法可以分为照相法和衍射仪法，照相法中根据试样和底片的相对位置不同可以分为三种： 1 德拜—谢乐法 Debye-Scherrer method ，底片位于相机圆筒内表面，试样位于中心轴上； 2 聚焦照相法 focusing Method ，底片、试样、X射线源均位于圆周上； 3 针扎法 Pinhole method ，底片为平板形与X射线束垂直放置，试样放在二者之间适当位置。 所有的衍射法其衍射束均在反射圆锥面上，圆锥的轴为入射束。各个圆锥均由特定的晶面反射引起的。第二章已经述及，在粉末试样中有相当多个粉末颗粒，含有相当多的我们感兴趣的（hkl）晶面，而且是随颗粒一起在空间随机分布的。当一束X射线从任意方向照射到粉末样品上时，总会有足够多的（hkl）晶面满足布拉格方程，在与入射线呈2θ角的方向上产生衍射，衍射线形成一个相应的4θ顶角的圆锥。 §4—2 粉末照相法 反之，如果已知晶体的晶胞的形状和大小就可以预测可能产生的衍射线在底片上的位置。如2θ最小的线条是由晶面间距最大的晶面反射的结果。例如立方晶系中 h2+k2+l2 最小，即为l的时候，hkl为100，此时d最大。因此，100反射对应于最小2θ位置的线条。其次的反射是 h2+k2+l2 为第二小，即 h2+k2+l2 ＝2的晶面如110的反射。 德拜相机是按图4—1所示的衍射几何设计的。图4—2和图4—3分别为德拜相机的外观和剖面示意图。相机是由一个带有盖子的不透光的金属筒形外壳、试样架、光阑和承光管等部分组成。照相底片紧紧地附在相机盒内壁。德拜相机直。这样设计的目的是当相机直径为57.3mm时，其上周长为180mm，因为圆心角为360°,所以底片上每一毫米长度对应2°圆心角；当相机直径是114.6mm时，底片上每一毫米对应1°圆心角，这样做完全是为了简化衍射花样计算公式。 光阑的主要作用是限制入射线的不平行度和固定入射线的尺寸和位置，也称为准直管。承光管的作用是监视入射线和试样的相对位置；同时吸收透射的X射线，保护操作者的安全。 二、实验方法 1．试样的制备 样品粉末一般要经玛瑙研钵研细，粒度约在微米数量级，必要时可通过约0.045mm的筛孔。可将粉末与树脂调匀后粘接至0.05-0.08mm直径的玻璃丝上。做好的试样其直径为2－1mm，长10－15mm。 2．底片的安装 德拜相机采用长条底片，安装前在光阑和承光管的位置处打好孔。安装时应将底片紧靠相机内壁，并用压紧装置使底片固定不动。底片的安装方式根据园简底片开口处所在位置的不同，可分为以下几种： （1） 正装法 x射线从底片接口处入射，照射试样后从中心孔穿出，见团4—4 a 。这样．低角的弧线接近小心孔，高角线则靠近端部。由于高角线有较高的分辨本领 见本节后部 有时能将Kα双线分开。正装法的几何关系和计算均较简单，常用于物相分析等工作。 （2）反装法 几何关系如图4—4 b 所示。 x射线从底片中心孔射入，从底片接口处穿出。高角线条集中于孔眼附近，衍射线中除口角极高的部分被光阑遮挡外，其余几乎全能摄录下来。高角线弧对间距较小，出底片收缩造成的误差也较小，故运用于点阵常数的测定。 （3）偏装法 不对称装法 如图4—4 c 所示，底片上有两个孔，分别对装在光阑和承光管的位置，x射线先后从这两个孔中通过，衍射线条形成进出光孔的两组弧对。这种安装底片的方法具有反装法的优点．其外还可以直接由底片上测算出真实的圆周长，因此，消除了由于底片收缩、试样偏心以及相机半径不准确所产生的误差。这是目前较常用的方法。 3．摄照规程的选择 要得到一张满意的德拜像，使其达到实验要求．选择合适的掇照规程是很重要的。首先要按照第一章第五节所述的原则选择阳极靶和滤波片。应当指出，选择阳极和滤波片必须同时兼顾。应先根据试样选择阳极，再根据阳极选择滤波片，而不能孤立地选择哪一方。 此外还要注意选择合适的管压和管电流。实验证明，当管压为阳极元素K系临界激发电压的3—5倍时，特征谱与连续谱的强度比可达最佳值，工作电压就选择在这一