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基于FRAM的MCU低功耗应用的安全性解析 安全性在包括智能手机配件、智能仪表、个人健康监控、遥控以及存取系统等各种应用中正在变得日益重要。要保护收益及客户隐私，OEM厂商必须采用安全技术加强系统的防黑客攻击能力。对于大量这些应用而言，将要部署数百万的器件，工程师面临的挑战是在不严重影响系统成本或可靠性的同时，确保最佳安全平衡。主要注意事项包括保护敏感数据的传输，防止MCU应用代码及安全数据被读取，防止MCU遭到物理攻击，最大限度提高电源效率，以及支持安全升级，确保设备能够应对未来安全威胁等。 　　安全设备必须能够像银行保险库一样有效地安全存储敏感信息。这类信息包括交换的实际数据（比如客户的信用卡号或者何时用了多少电的记录等）以及任何确保通信通道安全的加密数据（如安全密钥及密码等）等。 　　最新低功耗微处理器（MCU）集成降低安全应用成本与功耗所需的高性能以及各种特性，可帮助开发人员为低功耗应用提高安全性。此外，它们还采用非易失性FRAM替代EEPROM或闪存提供稳健统一的存储器架构，从而可简化安全系统设计。 　　FRAM的优势 　　与基于闪存的传统系统相比，FRAM可提供优异的保留性与耐用性。采用闪存，数据按晶体管充电状态存储（如开或关）。写入闪存时，必须先擦除相应的块然后再写入。这个过程可对闪存造成物理损坏，最终导致晶体管无法可靠保持电荷。 　　确保闪存的最长使用寿命，通常部署损耗平衡等技术在各个块上平摊使用量，以避免某些常用块过早损坏。进而需要评估闪存系统可靠性，是因为闪存的耐用性规范反映的是平均故障率，每个具体块的耐用性有高有低。此外，保留的可靠性会随耐用性极限的接近而下降，因为保留是根据每个存储器元素的磨损进行统计的。 　　图1:FRAM PZT分子的模型 　　相比之下，FRAM将数据按分子极化状态存储。由于该过程为非破坏性，因此FRAM具有几乎无限期的保留性与耐用性。对必须在整个设备使用寿命期间执行20,000至40,000次交易的移动支付系统等应用而言，FRAM无需考虑耐用性与可靠性问题。 　　此外，FRAM的高耐用性也关系到某些应用的安全性。例如，要提高通信安全性，每次新传输都需要生成新密钥。这种方法必须考虑闪存和EEPROM的耐用性问题。使用FRAM就无需考虑密钥改变频次对存储器耐用性产生影响的问题。 　　校准 　　除了防止应用数据和加密密钥遭到非授权读写之外，系统还必须防止参数被恶意篡改，导致敏感信息被访问，甚至发生物理MCU本身受到侵害攻击的情况。MCU容易受到各种攻击的侵害，导致存储器中存储的数据、应用代码或安全密钥被提取。 　　在许多情况下，MCU攻击的目的都是为了改变器件上存储的数据。例如，自动计量仪表上的使用数据可能被修改，显示实际使用数额偏低，导致每月账单降低。一般说来，黑客不是去修改收集到的数据，而是要改变应用代码本身。要达到这一目标，它们必须首先获得应用代码画面，进行逆向工程，然后在系统中使用修改后的版本进行成功覆盖。 　　图2:TI MSP430FR59xx MCU建立在超低功耗“Wolverine”技术平台基础之上，采用非易失性FRAM替代EEPROM或闪存提供高稳健统一存储器架构，可简化安全系统设计 　　目前已经出现了大量强制系统暴露保密信息甚至其应用代码的方法。例如，故障攻击可引发故障操作，让系统进入不可预测的状态，从而使其输出安全密钥或应用代码块。此外，黑客还可对系统进行物理攻击，分离MCU或采用光学手段引发故障。需要注意的是，不是所有以下攻击情境都适用于所有应用，具体可能发生哪种攻击取决于风险数据的应用及价值。 　　●机械探查：虽然对EEPROM进行机械探查比较困难，但仍可通过IC后端、采用既不破坏浮动栅，又不破坏比特单元数据的方法做到。相比之下，FRAM的极化状态只有在电路完整时才能检测到。 　　●电源分析：频谱电源分析（SPA）和动态电源分析（DPA）是测量MCU电磁辐射或电源使用的专业技术，其可创建用来确定MCU内部所做工作的配置文件。EEPROM与闪存需要工作电压为10至14V的电荷泵，使其比较容易检测到。FRAM极其快速的读写速度（分别为50 ns和200 ns以下）以及较低的工作电压 （1.5 V） 使其被成功安装基于SPA或DPA的攻击极为困难。 　　●显微镜检查：实践证明，使用Atomic Force Microscopy （AFM）或Scanning Kelvin Probe Microscopy（SKPM）可在后端剥层后检测到EEPRO中的浮动栅电荷水平，因此可记录存储在存储器位置上或在数据线路上传输的数据。 ●电压篡改：这类攻击多年来一直针对EEPROM及闪存设备，特别是用于电话卡作弊。实际上，就是让设备输入电压超过标准范围，对比特单元进行强制编程。注意，提