【毕业论文】数字集成电路测试系统.doc

数字集成电路测试系统 摘要：科技的进步带动了民用和国防工业的发展，并且对系统和器件的稳定性和正确性提出了更高的要求，测试系统能够对系统和器件的参数进行精确的测定和估算，老化和破坏测试能按照统计规律预测批量设备的性能。本文提出采用多通道矩阵交换结构测试数字集成电路的简易方案和实现，并可作为一个平台测试常用中低频器件电气参数和工作区间，极大提高整系统的稳定性。 关键词：测试 数字集成电路 多通道矩阵交换 ABSTRACT: Advances in technology led to the development of civilian and defense industry，also higher requirements for stability and completely validity of the system and device. The test system can accurate measurement and estimation to the system with their device, even aging and destruction test Statistical projections in accordance with the law of bulk devices. In this paper, multi-channel matrix switch structure is used to testing digital integrated circuits and realization of a simple program also can serve as a platform to test the electrical parameters and working range commonly that the device worked in the low or medium frequency, which can greatly improve the entire system stability. KEYWORD: Test Digital integrated circuits Multi-channel matrix switch 目录 目录 2 一 概要 3 1.1 集成电路测试发展 3 1.2 集成电路测试现状 4 1.3 集成电路测试未来 6 1.4 系统综述 7 二 系统硬件实现 9 2.1 测试前端 9 2.2 系统测试配置 10 2.3 控制部分 16 2.4 人机接口 17 三 系统软件开发 18 3.1 系统初始化及配置 18 3.2 测试向量产生 21 3.3 人机接口 21 3.4 LCD显示 22 3.5 测试流程 24 四 总结 24 五 致谢 25 六 参考文献 26 七 附录 27 一 概要 1.1 集成电路测试发展 集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一。因此，集成电路测试仪作为一个测试门类受到很多国家的高度重视。40年来，随着集成电路发展到第四代，集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路，到了八十年代，超大规模集成电路测试仪进入全盛时期。集成电路测试仪的发展过程可以粗略地分为四个时代。第一代始于1965年，测试对象是小规模集成电路，可测管脚数达16只。用导线连接、拨动开关、按钮插件、数字开关或二极管矩阵等方法，编制自动测试序列，仅仅测量IC外部管脚的直流参数。第二代始于1969年，此时计算机的发展已达到适用于控制测试仪的程度，测试对象扩展到中规模集成电路，可测管脚数24个，不但能测试IC的直流参数，还可用低速图形测试IC的逻辑功能这是一个飞跃。第三代始于1972年，这时的测量对象扩展到大规模集成电路（LSI），可测管脚数达60个，最突出的进步是把功能测试图形速率提高到10MHz。从1975年开始，测试对象为大规模、超大规模集成电路（LSI/VLSI），可测管脚剧增到128个，功能测试图形速率提高到20MHz。不但能有效地测量CMOS电路，也能有效地测量TTL、ECL电路。此时作为独立发展的半导体自动测试设备，无论其软件、硬件都相当成熟。1980年测试仪进入第四代，测量对象为VLSI，可测管脚数高达256个，功能测试图形速率高达100MHz，测试图形深度可达256K以上。测试仪的智能化水平进一步提高，具备与计算机辅助设计（CAD）连接能力，利用自动生成测试图形向量，并加强了数字系统与模拟系统的融合。有些系统实现了与激光修调设备连机工作，对存储器、A/D、D/A等IC芯片进行修正。从1970年Fair