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* * 生长指数、断层同沉积位移 生长构造的 d-Δd 作图分析 第五讲 伸展盆地生长断层定量分析 生长指数(Expansion index)是分析生长断层（一般指同沉积正断层）生长特征的重要参数，可以通过测量同沉积断层两盘相当层的厚度后计算得出（Thorsen,1963） 同沉积断层“相当层”在上盘的厚度与在下盘的厚度之比称为该断层在相当层沉积时期的生长指数 生长指数 方法一：垂直岩层顶面测量岩层厚度：Ei=Hh/Hf 优点：简明直观，直接表现断层生长特征 缺点：受岩层厚度、剥蚀量等影响，单层厚度较小时可能误差较大 方法二：直接测量同层断层位移（落差） 缺点：下盘地层厚度为零 8 引入断层生长系数的概念可以消除部分地层下盘地层厚度为零的影响 引入断层生长速率概念可以反映断层活动性的差异 生长系数＝（上盘厚度—下盘厚度）／上盘厚度 同沉积期断层落差（m) ＝（上盘厚度—下盘厚度） 生长速率＝同沉积期断层落差（m）／顶底年龄差（Ma） 8 5.00 0.3846 1.63 500 1300 800 111 4.50 0.3750 1.60 450 1200 750 110 4.00 0.3636 1.57 400 1100 700 109 3.50 0.3500 1.54 350 1000 650 108 3.00 0.3333 1.50 300 900 600 107 2.50 0.3125 1.45 250 800 550 106 2.00 0.2857 1.40 200 700 500 105 1.50 0.2500 1.33 150 600 450 104 1.00 0.2000 1.25 100 500 400 103 0.50 0.1250 1.14 50 400 350 102 0.00 0.0000 1.00 0 300 300 101 生长速率 生长系数 生长指数 同沉积期落差 上盘厚度 下盘厚度 测线 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 上盘 下盘 假设同沉积层持续100Ma 生长指数变化并未能反映断层生长特征 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 上盘 下盘 两盘地层厚度影响生长指数和生长系数的大小 5.00 0.3846 1.63 500 1300 800 111 4.50 0.3750 1.60 450 1200 750 110 4.00 0.3636 1.57 400 1100 700 109 3.50 0.3500 1.54 350 1000 650 108 3.00 0.3333 1.50 300 900 600 107 2.50 0.3125 1.45 250 800 550 106 2.00 0.2857 1.40 200 700 500 105 1.50 0.2500 1.33 150 600 450 104 1.00 0.2000 1.25 100 500 400 103 0.50 0.1250 1.14 50 400 350 102 0.00 0.0000 1.00 0 300 300 101 生长速率 生长系数 生长指数 同沉积期落差 上盘厚度 下盘厚度 测线 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 上盘 下盘 厚度与落差的比值影响生长指数和生长系数 5.00 0.3846 1.63 500 1300 800 111 4.50 0.3750 1.60 450 1200 750 110 4.00 0.3636 1.57 400 1100 700 109 3.50 0.3500 1.54 350 1000 650 108 3.00 0.3333 1.50 300 900 600 107 2.50 0.3125 1.45 250 800 550 106 2.00 0.2857 1.40 200 700 500 105 1.50 0.2500 1.33 150 600 450 104 1.00 0.2000 1.25 100 500 400 103 0.50 0.1250 1.14 50 400 350 102 0.00 0.0000 1.00 0 300 300 101 生长速率 生长系数 生长指数 同沉积期落差 上盘厚度 下盘厚度 测线 生长系数变化并未能反映断层生长特征 5.00 0.3333 1.50 500 1500 1000 11
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