仪表与系统可靠性第3、4讲不可修系统可靠性.pptVIP

介绍内容 1、仪表元器件的可靠性预测 2、不可修系统的可靠性预测 3、不可修系统的可靠性分配 概 述 ⊙系统的可靠性预计，应以已有的、经过试验或长期现场使用所得的可靠性数据、资料为基础。 ⊙它的任务是在系统分析、系统设计和工程技术设计中预测所设计的系统(或部件)可能达到的可靠性水平。可靠性预计又为系统方案论证提供进一步的可靠性特征量的数据。 ⊙通过可靠性预计可以揭示出部件或系统中可靠性的薄弱环节，提出在方案论证中应当更进一步研究的一些问题。 ⊙比如应用贮备技术，更换原来所选定的部件，制定定期维修程序，提出对制造工艺和检验的特殊要求等。 ⊙可靠性论证的新结果又是进一步预计的根据，这是一个反馈迭代过程。最终，确定系统必须达到的既满足任务要求，又切实际的可靠性指标。 概 述 ⊙可靠性分配是将系统设计中所确定的系统的可靠性指标在构成该系统的各子系统之间进行适当的分配，落实系统的可靠性指标，确定各子系统的合理的可靠性要求，自然在这个过程中又会暴露出系统某些薄弱环节，这时又为改进设计提供数据，据此进行相应的设计调整。 ⊙因而实际上，在可靠性设计中，要经过多次预计、分配；再预计、再分配的反复过程才能完成。 ⊙可靠性预计是按元器件+组合件→功能模块装置→子系统→系统的程序进行。 ⊙可靠性分配则是按系统→子系统+装置→功能模块→组合件→元器件的程序进行，它们结合在一起构成了一个自下而上，又自上而下的反馈迭代过程。 第一节 仪表元器件的可靠性预测 一、电子元器件使用失效率预计 ⊙电子元器件失效率应力分析法是国际上最常用的一种预计方法，这种方法是根据元器件的失效特性来计算其使用失效率。其基本原理是通过元器件应力分析得出与温度及负荷系数呈函数关系的基本失效率的数学模型，再考虑各种因素的影响，引进修正系数，称为 系数， 系数与基本失效率相乘得到元器件的使用失效率。 ⊙国际上比较普遍采用的是美国军用手册“电子设备可靠性预计”推荐的电子器件使用失效率预计模型。 （1） 式中： 为使用失效率： 为基本失效率，它的值是根据特定的工作温度和期望的应力值来确定的，元器件的主要负荷应力系数和安全系数都反映在 里。因此，不仅不同的元器件有不同的 ，就是同一种元器件在不同的温度、电应力条件下也有不同 。 第一节 仪表元器件的可靠性预测（续） 为环境系数，这个系数是指除温度以外产品能正常工作的环境应力对元器件失效率影响的修正系数； 为应用系数，它取决于元器件的应用，是表示线路功能应用影响的修正系数； 为质量系数，它表示元器件使用之前，在制造和试验及筛选过程中工艺质量的控制等级。 ⊙对于不同的元器件，还有不同的修正系数，实际应用中均可在预计手册中查到。这些数据都是通过失效机理分析方法和大量数据统计获得的。因此，采用(1)式的模型，通过各个因素的不同赋值，便可求出不同使用条件下的元器件使用失效率。 ⊙基本失效率通常与电应力和温度应力对元器件影响及工作功率与额定功率之比有关。 ⊙不同类型的电子器件，如电阻器、电容器、晶体管等等，它们的基本失效率有不同的失效模型。 第一节 仪表元器件的可靠性预测（续） 例如：分立半导体器件基本失效率 的数学模型是根据失效率随结温度成指数规律的阿伦尼斯模型，对比试验室和现场数据拟合出来的，基本失效率 的公式为： （2） 式中 上式中， 为失效率调整系数， 为形状参数。 为无结电流或功率时的最高允许温度，即最高允许结温； 为适用的工作温度(0C)，环境温度或管壳温度； 为无结电流或功率(整个减额)时典型的最高允许温度与有满额定结电流或功率时典型的最高允许温度之差； 为工作电应力与额定应力之比。 是常数，不同的晶体管其值不同，如表4一l所示。 第一节 仪表元器件的可靠性预测（续） 例l： 第一节 仪表元器件的可靠性预测（续） 使用分立半导体器件失效率 模型时需注意的事项： 1．器件的额定值 三极管的额定值一般为最大功率耗散值，二极管为最大允许电流值。通常每种器件规定两个额定功率点：