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题名: Fe/Si 薄膜中相干声学声子的光激发研究
作者: 张郑兵
作者: 马小柏
作者: 金钻明
作者: 马国宏
作者: 杨金波
中文刊名: 物理学报
单位: 上海大学理学院物理系
单位: 北京大学人工微结构和介观物理国家重点实验室
摘要: 本文通过抽运一探测技术,利用飞秒激光脉冲激发并探测了 Fe/Si 薄膜中的高频相干
声学声子.通过经典的阻尼谐振函数,对声学声子的动力学行为进行了拟合.实验及拟合结果
表明,该声学声子的共振频率约为0.25 THz,其退相时间约为 12 ps,且都与激发光的波长和能
量密度无关.声学声子的振幅随着激发光能量密度的增加而线性地增强.临界参数 12_ Τ
e‐ph/T 约为 0.6,表明相干声学声子的驱动力主要来源于电子热应力的贡献.最后,结合薄膜的
厚度和质量密度,可以得到室温下垂直于该.Fe/Si 薄膜表面(out of plane)的弹性常数C_ ⊥约为
283 GPa.
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