晶粒尺寸对织构测试的影响与大晶粒薄带材样品的织构测试.docVIP

晶粒尺寸对织构测试的影响与大晶粒薄带材样品的织构测试 王颖 胡小军 （北京北冶功能材料有限公司，北京 100192） 摘要：本文通过比较不同晶粒尺寸立方系样品的极图测试结果分析样品晶粒尺寸对极图测试的影响。当样品晶粒细小时可以用常规方法进行织构测试；对较大晶粒样品当测试谱线失去了对称性时或晶粒更大，无法采用常规方式测试。对于因晶粒较大而无法采用常规织构测试的薄带材样品，通过从样品侧面测得不完全极图并过ODF转换计算的方法得到样品的织构，结果表明这种方法可以较好的解决大晶粒薄带材样品的织构测试问题。 材；XEffect of crystal size on the texture measurement and one solution of the texture measurement of the thin tape with large crystals Wang ying Hu xiaojun (Beijing beiye functional materials corporation，Beijing 100192) Abstract：The effect of the crystal size on the pole figure measurement (by X-ray diffraction)of cubic samples was analysis by comparing the pole figure measurement data of samples with different crystal sizes. The normal X-ray texture measurement was suitable for samples with fine crystals; as to the samples with very large crystal or it’s pole figure lose the symmetrical, the texture measurement cannot be taken by the normal way. For the thin tape samples with large crystal which cannot take the pole figure measurement by the normal method, we tried to get the sample’s incomplete pole figures on the resultant side faces and then by the way of the ODF transformation calculation to gain the samples texture information, and the result shows that the method is effective. Key word: texture, pole figure, ODF, thin tape，X-ray diffraction 一、引言 由于采用X射线衍射方法进行织构测试时要求在X射线照射面积内需要有足够数量的晶粒参与衍射，最后得到的测试数据的统计结果，并据此进行晶粒取向的分析，因此测试中在衍射光斑面积有限的条件下，对样品的晶粒尺寸有一定的限制。在一般的测试条件下，晶粒细小的样品可以得到较好的织构测试结果，当晶粒略大时可以通过增加摆动测试的方法扩大照射面积以弥补晶粒数减少的问题，但是对于晶粒度较大的样品即使增加摆动仍然不能改善测试效果。针对测试中出现的这种问题本文研究了不同晶粒尺寸样品的极图测试结果；同时针对较大晶粒尺寸的薄带材样品，采用从多片样品侧面的组合面测试不完全极图的方法增加测试中参与衍射的晶粒数目，取得较好的测试结果。 二、实验 调整热处理工艺得到不同晶粒尺寸的样品，本文所用样品为1J55薄带。对于大晶粒的薄带样品除进行常规X射线织构测试外还进行了侧面测试计算，侧面测试需要利用多片薄带样品侧面构造一个测试表面，即将若干片薄带样品叠放固定，磨削样品的侧面使之与轧面保持垂直，然后以此侧面作为测试表面按常规织构测试方法进行不完全极图测试，由不完全极图计算所得的取向分布函数（ODF）经由取向分布函数转换计算（转换参数为φ=90°） [1]得到样品的取向分布函数（ODF）结果，由此取向分布函数（ODF）就可以回算样品的各全极图。样品测试面构造示意图见下面图1所示。 图1 测试面示意图 Figure1 the sketch map of the resultant measurement surface 本文中各样品的不完全极图均采用反射方式测试得，取α＝0°